双束扫描电子显微镜(FIB-SEM)介绍

发布者:李雨佳发布时间:2026-03-20浏览次数:10

仪器名称:双束扫描电子显微镜

品牌:Thermo Fisher

安装地点:浙江大学宁波国际科创中心科研大楼117

功能说明:

双束扫描电子显微镜同时具备聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)功能,同时利用聚焦离子束进行精确刻蚀或沉积,结合两者可完成实时观测下的微纳加工与TEM样品制备。


应用范围:

通过离子束和电子束的协同作用,能够实现高精度的样品切割、成像和分析。双束电子显微镜广泛应用于半导体、材料科学、生物医学等领域,尤其在纳米技术研究和微纳加工中具有不可替代的作用。


技术指标:

电子束分辨率,在 30 keV STEM 下为 0.7 nm,在 1 keV 下为 1.4 nm,在 1 keV(射束减速)下为 1.2 nm

电子束电流范围:1 pA 400 nA

着陆能量范围:20 eV – 30 keV

加速电压范围:200 V – 30 kV


开放功能:

TEM样品制备、截面形貌观察、形貌分析



关闭